JEOL: Veröffentlichung des neuen Rasterelektronenmikroskops JSM-IT700HR

SEM – Unverzichtbar im täglichen Laborbetrieb – JSM-IT700HR macht es einfach


TOKIO–(BUSINESS WIRE)–JEOL Ltd. (TOKYO:6951) (Präsident & COO Izumi Oi) gibt die Markteinführung eines neuen Rasterelektronenmikroskops (Scanning Electron Microscope, SEM), dem JSM-IT700HR für einen beispiellos hohen Durchsatz, für August 2020 bekannt.

Hintergrund der Entwicklung

Rasterelektronenmikroskope werden in verschiedenen Bereichen eingesetzt, wie im Bereich der Nanotechnologie, Metalle, Halbleiter, Keramiken, Medizin und Biologie. Darüber hinaus werden die SEM-Anwendungen auf die Bereiche Qualitätskontrolle und Grundlagenforschung ausgeweitet. Die Anforderungen hinsichtlich einer schnelleren Datenerfassung von SEM-Bildern mit höherer Qualität und einer einfacheren Bestätigung von Kompositionsinformationen werden immer größer.

Das JSM-IT700HR basiert auf unserem preisgekrönten Vorgängermodell der SEM-Serie „InTouchScope™“ und ist mit unserer linsenintegrierten Schottky-Feldemissions-Elektronenkanone (Field Emission Electron Gun, FEG) ausgestattet. Dieses neue leistungsstarke SEM erfüllt die Anforderungen zur Beobachtung und Analyse von weiteren miniaturisierten Materialien im täglichen Laborbetrieb.

Das JSM-IT700HR liefert eine hohe Auflösung von 1 nm und einen maximalen Sondenstrom von 300 nA (15-mal höher als bisher) und liefert somit eine Fülle von Beobachtungs- und Analyseinformationen. Eine einfach zu bedienende Benutzeroberfläche, das kompakte Design, das eine große Probenkammer beherbergt, sowie eine erneuerte Schwingungsdämpfung für die Hauptkonsole ermöglichen eine komfortablere Beobachtung und Analyse als bisher.

Zur Verbesserung der „einfachen Bedienung“ verfügt das JSM-IT700HR über eine neue, in die SEM-Benutzeroberfläche integrierte Funktion zur Anzeige der charakteristischen Röntgenstrahlenerzeugungstiefe. Dadurch wird ein schnelles Verständnis der Analysetiefe (Referenz) für die Probe unterstützt – dies ist für die Elementaranalyse von Nutzen.

Es stehen 2 Konfigurationen zur Verfügung: 1) JSM-IT700HR/LV für Hoch- und Niedervakuum-Bildbeobachtung, 2) JSM-IT700HR/LA mit zusätzlich integriertem EDS-System von JEOL.

Nähere Angaben

  1. Die in das Objektiv integrierte Schottky-Feldemissions-Elektronenkanone ermöglicht eine hochauflösende Bildbeobachtung und eine Analyse mit hoher räumlicher Auflösung.
  2. Die Zeromag-Funktion, die Holder Graphics, CCD- und SEM-Bilder miteinander verknüpft, macht die Probendurchführung einfacher denn je.
  3. Mit unserer Serie Analytical („Live Analysis“-Funktion) zeigt das eingebettete EDS-System ein Echtzeit-EDS-Spektrum während der Bildbeobachtung für eine schnelle und effiziente Elementaranalyse.
  4. Eine neue Funktion zur Anzeige der Analysetiefe (charakteristische Röntgen-Erzeugungstiefe) unterstützt die schnelle Elementaranalyse.
  5. SMILE VIEW™ Lab, das die integrierte Verwaltung von Bild- und Analysedaten ermöglicht, erleichtert die Berichterstellung für alle Daten von den gesammelten SEM-Bildern bis hin zu den Ergebnissen der Elementaranalyse.
  6. „Specimen Exchange Navi“ ermöglicht einen sicheren und einfachen Probenaustausch.
  7. Mit der „Auto Beam Alignment“-Funktion werden die elektronenoptischen Bedingungen immer optimal gehalten.
  8. Das „Drawout Exchange System“ ermöglicht einen einfachen Zugang zu der großen Probenkammer, die verschiedene Größen und Arten von Proben aufnimmt

Verkaufsziel

130 Einheiten/Jahr (Anfangsjahr)

URL: https://www.jeol.co.jp/en/products/detail/JSM-IT700HR.html

JEOL Ltd.

3-1-2, Musashino, Akishima, Tokio, 196-8558, Japan

Izumi Oi, Präsident und COO

(Börsenkürzel: 6951, Tokyo Stock Exchange First Section)

www.jeol.com

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